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GW X-4显微熔点仪
精科SGW®X-4显微熔点仪(数显)商品描述应用范围测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。精科SGW&...

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产品介绍
精科SGW®X-4显微熔点仪(数显)商品描述

应用范围
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
精科SGW®X-4显微熔点仪(数显)技术规格

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X